发明名称 半导体封装件、其制造方法及重布芯片封装体的制造方法
摘要 一种半导体封装件、其制造方法及重布芯片封装体的制造方法。半导体封装件包括一半导体芯片、一封胶、一第一介电层、一图案化导电层及依第二介电层。半导体芯片包括一接垫并具有一主动表面及一对位标记,对位标记位于半导体芯片的主动表面的几何中心。封胶包覆半导体芯片的侧面,以暴露出主动表面。第一介电层形成于封胶及主动表面的上方。图案化导电层形成于第一介电层。第二介电层形成于图案化导电层的一部份。
申请公布号 CN101964339A 申请公布日期 2011.02.02
申请号 CN200910160538.8 申请日期 2009.07.23
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 谢爵安;杨宏仁;黄敏龙
分类号 H01L23/544(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I;H01L21/50(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/544(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 陆勍
主权项 一种半导体封装件,至少包括:一半导体芯片,包括一接垫及一对位标记并具有一主动表面,该对位标记位于该半导体芯片的该主动表面的几何中心;一封胶,包覆该半导体芯片的侧面,以暴露出该主动表面;一第一介电层,形成于该封胶及该主动表面的上方,该第一介电层具有一第一开孔,该第一开孔暴露出该接垫;一图案化导电层,形成于该接垫的一部份及该第一介电层;以及一第二介电层,形成于该图案化导电层的一部份。
地址 中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号