发明名称 System and method for the measurement of thickness and waviness of both sides of an object
摘要
申请公布号 PL207568(B1) 申请公布日期 2011.01.31
申请号 PL20050376824 申请日期 2005.08.30
申请人 INSTYTUT OPTYKI STOSOWANEJ 发明人 LITWIN DARIUSZ;GALAS JACEK;KOZ&LSTROK,OWSKI TOMASZ;SITAREK STEFAN
分类号 G01B11/06;G01B11/02;G01B11/28 主分类号 G01B11/06
代理机构 代理人
主权项
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