发明名称 Anordnung und Verfahren zur Erkennung, Ortung und Klassifikation von Defekten
摘要 Die Erfindung betrifft eine Anordnung und ein Verfahren zur messtechnischen Bestimmung von Merkmalen, die die Eigenschaften, Funktionstüchtigkeit und Qualität eines Systems 37 beschreiben. Das System 37 ist ein elektrisches, mechanisches oder akustisches Gerät (z.B. Lautsprecher) oder eine chemische, biologische oder andere technische Anlage, dessen Zustand beobachtbar ist. Der Generator 43 regt das System 37 zu Schwingungen mit der Periodendauer T an. Die Sensoren 45 und 47 messen den Zustand des Systems 37 und die Filter 51, 81, 75 trennen den deterministischen und den zufälligen Signalanteil in den gemessenen Signalen p(t,r) und p(t,r). Das Analysesystem 65 bestimmt Merkmale, die eine Ortung und Klassifikation der Fehlerursachen (z.B. ein Gehäuseleck 39) ermöglichen. Durch die Verwendung von mehreren Sensoren und eine geeignete Signalverarbeitung können Störungen durch eine externe Lärmquelle 90 erkannt und ungültige Messungen vermieden werden. Die Erfindung wird durch die folgende Abbildung am besten gekennzeichnet.
申请公布号 DE102009033614(A1) 申请公布日期 2011.01.20
申请号 DE200910033614 申请日期 2009.07.17
申请人 KLIPPEL, WOLFGANG 发明人 KLIPPEL, WOLFGANG
分类号 G01D3/028;H04R29/00 主分类号 G01D3/028
代理机构 代理人
主权项
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