发明名称 一种制作半导体电容元件的方法
摘要 本发明公开了一种制作半导体电容元件的方法,其包含有提供一基底;在该基底上形成一碳电极层;进行一第一原子层沉积工艺,在该碳电极层的表面沉积一中间过渡阻障层;进行一第二原子层沉积工艺,在该中间过渡阻障层上沉积一金属氧化层,其中在沉积金属氧化层的过程中,该金属氧化层与该中间过渡阻障层反应使得该金属氧化层和该中间过渡阻障层转化为一电容介电层;以及在该电容介电层上形成一电容上电极。
申请公布号 CN101604626B 申请公布日期 2010.12.29
申请号 CN200810125461.6 申请日期 2008.06.13
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 黄才育;聂鑫誉;谢君毅
分类号 H01L21/02(2006.01)I;H01L21/31(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 北京市浩天知识产权代理事务所 11276 代理人 刘云贵
主权项 一种制作半导体电容元件的方法,其特征在于,包含有:形成下电极层在基底上;进行第一沉积工艺,沉积中间过渡阻障层在该下电极层的表面;进行第二沉积工艺,沉积金属氧化层在该中间过渡阻障层上,其中在沉积金属氧化层的过程中,该金属氧化层与该中间过渡阻障层反应使得该金属氧化层和该中间过渡阻障层转化为电容介电层;以及形成电容上电极在该电容介电层上。
地址 中国台湾桃园县