伪双能欠采样物质识别系统和方法

摘要

公开了一种伪双能欠采样物质识别系统及其方法。该系统利用基于CT图像的双能投影欠采样物质识别方法，在第二层探测器中仅利用少量的探测器进行双能数据采样，并将该方法中解方程组的部分进行优化，有效的实现了低成本，快速度的双能物质识别成像。具有应用于安全检查，无损检测，医疗诊断等领域的潜力。

主权项

一种伪双能系统中的欠采样物质识别方法，包括：对被检查物体进行CT扫描，通过第一层阵列探测器获得第一投影数据以重建被检测物体的CT图像，以及通过设置在部分第一层阵列探测器后的第二层探测器阵列获得第二投影数据；组合第一投影数据和第二投影数据，以获得部分角度下的双能欠采样数据；根据双能欠采样数据采用查表的方法获得光电系数积分值和康普顿系数积分值；对被检测物体的CT图像进行区域分割，得到分割后的多个区域并且计算射线穿过各个区域的长度；根据射线穿过各个区域的长度，光电系数积分值和康普顿系数积分值，利用双能前处理双效应分解重建方法求解康普顿系数和光电系数；基于康普顿系数和光电系数至少计算各分割的区域中物质的原子序数；至少基于原子序数对被检查物体的物质进行识别。