| 主权项 |
一种光资讯记录装置，其系藉由进行依据记录脉冲列之雷射光照射，该记录脉冲列具备：仅包含先头脉冲之第一记录脉冲，及由该先头脉冲与后续脉冲构成之第二记录脉冲，而在光记录媒体中形成凹槽及/或间隔，其特征为具备：重现形成于前述光记录媒体之凹槽及/或间隔、照射继两个第一记录脉冲之后具备相当于该第一记录脉冲之宽度之间隔之第一记录脉冲列及照射继两个第一记录脉冲之后具备比该第一记录脉冲之宽度长之间隔之第二记录脉冲列之机构；依据前述重现机构之重现结果，改变前述第一记录脉冲之功率之机构；依据前述重现机构之重现结果，改变前述第二记录脉冲之宽度之机构；将重现藉由前述第一记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号、与重现藉由前述第二记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号加以比较之机构；及依据前述比较结果判定前述重现结果之真伪之机构。如请求项1之光资讯记录装置，其中具备：重现形成于前述光记录媒体之凹槽及/或间隔，检测离基准长之长度偏差量之机构；依据前述偏差量，决定前述第一记录脉冲之功率之机构；及依据前述偏差量，来决定前述第二记录脉冲之宽度之机构。如请求项1之光资讯记录装置，其中具备：重现形成于前述光记录媒体之测试区域之凹槽及/或间隔，决定前述第一及第二记录脉冲之基本记录条件之机构；重现形成于前述光记录媒体之记录区域之凹槽及/或间隔，检测离基准长之长度偏差量；将前述第一记录脉冲宽设定成与前述基本记录条件相同条件，并且依据前述偏差量调整该第一记录脉冲之功率之机构；及将前述第二记录脉冲之功率设定成与前述第一记录脉冲之功率相同条件，并且依据前述偏差量调整前述第二记录脉冲之宽度之机构。如请求项3之光资讯记录装置，其中系藉由记录用雷射光之脉冲照射，在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，同时藉由重现用雷射光之照射，进行前述凹槽及/或间隔之检测者，且具备：重现形成于前述光记录媒体之测试区域之凹槽及/或间隔，决定仅包含先头脉冲之第一记录脉冲，及由该先头脉冲与后续脉冲构成之第二记录脉冲之基本记录条件之机构；及藉由前述重现用雷射光，重现使用前述记录用雷射光而形成于前述光记录媒体之记录区域之凹槽及/或间隔，检测离基准长之长度偏差量之机构。一种光资讯记录装置，其系藉由进行依据记录脉冲列之雷射光之照射，该记录脉冲列具备：仅包含先头脉冲之第一记录脉冲，及由该先头脉冲与后续脉冲构成之第二记录脉冲，而在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，其特征为具备：在前述光记录媒体上，照射以相当于前述第二记录脉冲之宽度之间隔配置两个第一记录脉冲之记录脉冲列之机构；照射继两个第一记录脉冲之后具备相当于该第一记录脉冲之宽度之间隔之第一记录脉冲列之机构；照射继两个第一记录脉冲之后具备比该第一记录脉冲之宽度长之间隔之第二记录脉冲列之机构；重现藉由前述记录脉冲列之照射而形成之凹槽及/或间隔，取得对应于两个第一记录脉冲之间隔之凹槽及/或间隔信号之机构；依据对应于两个第一记录脉冲之间隔之凹槽及/或间隔信号，检测对应于前述第一记录脉冲之凹槽及/或间隔之长度之机构；依据对应于前述检测出之第一记录脉冲之凹槽及/或间隔之长度，调整前述第一记录脉冲之功率之机构；将重现藉由前述第一记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号、与重现藉由前述第二记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号加以比较之机构；及依据前述比较结果判定前述重现结果之真伪之机构。如请求项5之光资讯记录装置，其中系藉由记录用雷射光之脉冲照射，在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，同时藉由重现用雷射光之照射，进行前述凹槽及/或间隔之检测者，且具备：重现形成于前述光记录媒体之测试区域之凹槽及/或间隔，决定第一记录脉冲与比该第一记录脉冲长之第二记录脉冲之记录条件之机构；使用前述记录用雷射光，在前述光记录媒体之记录区域照射以相当于前述第二记录脉冲之宽度之间隔配置两个第一记录脉冲之记录脉冲列之机构；及藉由前述重现用雷射光重现藉由前述记录脉冲列之照射而形成之凹槽及/或间隔，取得对应于两个第一记录脉冲之间隔之凹槽及/或间隔信号之机构。一种光资讯记录方法，其系藉由进行依据记录脉冲列之雷射光之照射，该记录脉冲列具备：仅包含先头脉冲之第一记录脉冲，及由该先头脉冲与后续脉冲构成之第二记录脉冲，而在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，其特征为具备以下步骤：照射继两个第一记录脉冲之后具备相当于该第一记录脉冲之宽度之间隔之第一记录脉冲列，照射继两个第一记录脉冲之后具备比该第一记录脉冲之宽度长之间隔之第二记录脉冲列；重现形成于前述光记录媒体上之凹槽及/或间隔；将重现藉由前述第一记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号、与重现藉由前述第二记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号加以比较；依据前述比较结果判定前述重现结果之真伪；依据前述重现步骤之重现结果，改变前述第一记录脉冲之功率；及依据前述重现步骤之重现结果，改变前述第二记录脉冲之宽度。如请求项7之光资讯记录方法，其中具备以下步骤：在前述光记录媒体上，照射以相当于前述第二记录脉冲之宽度之间隔配置两个第一记录脉冲之记录脉冲列；重现藉由前述记录脉冲列之照射而形成之凹槽及/或间隔，取得对应于两个第一记录脉冲之间隔之凹槽及/或间隔信号；依据对应于两个第一记录脉冲之间隔之凹槽及/或间隔信号，检测对应于前述第一记录脉冲之凹槽及/或间隔之长度；及依据对应于前述检测出之第一记录脉冲之凹槽及/或间隔之长度，调整前述第一记录脉冲之功率。一种信号处理电路，其系组装于光资讯记录装置中，该光资讯记录装置系藉由进行依据记录脉冲列之雷射光之照射，该记录脉冲列具备：仅包含先头脉冲之第一记录脉冲，及由该先头脉冲与后续脉冲构成之第二记录脉冲，而在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔者，其特征为具备：重现形成于前述光记录媒体上之凹槽及/或间隔之机构，该凹槽及/或间隔系藉由照射继两个第一记录脉冲之后具备相当于该第一记录脉冲之宽度之间隔之第一记录脉冲列及继两个第一记录脉冲之后具备比该第一记录脉冲之宽度长之间隔之第二记录脉冲列所形成；依据前述重现机构之重现结果，改变前述第一记录脉冲之功率之机构；依据前述重现机构之重现结果，改变前述第二记录脉冲之宽度之机构；将重现藉由前述第一记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号、与重现藉由前述第二记录脉冲列之照射而形成之凹槽及间隔所获得之信号加以比较之机构；及依据前述比较结果判定前述重现结果之真伪之机构。如请求项9之信号处理电路，其中具备：在前述光记录媒体上，照射以相当于前述第二记录脉冲之宽度之间隔配置两个第一记录脉冲之记录脉冲列之机构；重现藉由前述记录脉冲列之照射而形成之凹槽及/或间隔，取得对应于两个第一记录脉冲之间隔之凹槽及/或间隔信号之机构；依据对应于两个第一记录脉冲之间隔之凹槽及/或间隔信号，检测对应于前述第一记录脉冲之凹槽及/或间隔之长度之机构；及依据对应于前述检测出之第一记录脉冲之凹槽及/或间隔之长度，调整前述第一记录脉冲之功率之机构。一种光资讯记录装置，其系藉由雷射光之脉冲照射，而在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，其特征为具备：重现形成于前述光记录媒体之测试区域内之凹槽及/或间隔，求出其结果所获得之信号之二次微分相当值之机构；重现形成于前述光记录媒体之记录区域内之凹槽及/或间隔，求出其结果所获得之信号之二次微分相当值之机构；及比较在前述测试区域内求出之二次微分相当值与在前述记录区域内求出之二次微分相当值之机构。如请求项11之光资讯记录装置，其中系藉由记录用雷射光之脉冲照射，而在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，同时藉由重现用雷射光之照射，进行前述凹槽及/或间隔之检测者，且具备：使用前述重现用雷射光重现在前述光记录媒体之记录区域内使用前述记录用雷射光而形成之凹槽及/或间隔，求出其结果所获得之信号之二次微分相当值之机构；及比较在前述测试区域内求出之二次微分相当值与在前述记录区域内求出之二次微分相当值之机构。如请求项11之光资讯记录装置，其中系藉由雷射光之脉冲照射，而在光记录媒体上形成长度不同之复数种凹槽及间隔者，且具备：重现形成于前述光记录媒体之测试区域内之凹槽及间隔，求出对于其结果所获得之前述长度不同之复数种凹槽信号各个之二次微分相当值之机构；重现形成于前述光记录媒体之记录区域内之凹槽及间隔，求出对于其结果所获得之前述长度不同之复数种凹槽信号各个之二次微分相当值之机构；及比较对于在前述测试区域内求出之各凹槽长度之二次微分相当值与对于在前述记录区域内求出之各凹槽长度之二次微分相当值之机构。如请求项11之光资讯记录装置，其中具备：重现形成于前述光记录媒体之测试区域内之凹槽及间隔，求出对于其结果所获得之前述长度不同之复数种间隔信号各个之二次微分相当值之机构；重现形成于前述光记录媒体之记录区域内之凹槽及间隔，求出对于其结果所获得之前述长度不同之复数种间隔信号各个之二次微分相当值之机构；及比较对于在前述测试区域内求出之各间隔长度之二次微分相当值与对于在前述记录区域内求出之各间隔长度之二次微分相当值。一种光资讯记录装置，其系藉由雷射光之脉冲照射，在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，其特征为具备：旋转前述光记录媒体之机构；光检测器，其系具有对于前述光记录媒体之旋转方向，在前后所划分之至少两个受光区域；求出自前述两个受光区域获得之各信号之差分之机构；将前述差分予以微分之机构；在设于前述光记录媒体之测试区域内求出前述微分值之机构；在设于前述光记录媒体之记录区域内求出前述微分值之机构；及比较在前述测试区域内求出之微分值与在前述记录区域内求出之微分值之机构。如请求项15之光资讯记录装置，其中系藉由记录用雷射光之脉冲照射，而在光记录媒体上形成凹槽及/或间隔，同时藉由重现用雷射光之照射，进行前述凹槽及/或间隔之检测者，且具备：使用前述重现用雷射光，在设于前述光记录媒体之记录区域内求出前述微分值之机构。一种请求项11之装置之光资讯记录方法，其特征为具备以下步骤：重现形成于前述光记录媒体之测试区域内之凹槽及/或间隔，求出其结果所获得之信号之二次微分相当值；重现形成于前述光记录媒体之记录区域内之凹槽及/或间隔，求出其结果所获得之信号之二次微分相当值；及比较在前述测试区域内求出之二次微分相当值与在前述记录区域内求出之二次微分相当值。一种用于请求项11之装置之信号处理电路，其特征为具备：重现形成于前述光记录媒体之测试区域内之凹槽及/或间隔，求出其结果所获得之信号之二次微分相当值之机构；重现形成于前述光记录媒体之记录区域内之凹槽及/或间隔，求出其结果所获得之信号之二次微分相当值之机构；及比较在前述测试区域内求出之二次微分相当值与在前述记录区域内求出之二次微分相当值之机构。 |
