发明名称 |
用于取样的方法和装置 |
摘要 |
本发明涉及在某一过程中、例如粒化过程中用于提取和测量物料样品的方法和装置。得到测量的物料被允许以自由落下的方式聚积在测量装置例如透明容器(3)的测量腔(7)内,通过测量装置(3)的壁来完成所需测量,并且通过引起紊流并在测量腔(7)中从底部向上引导的气态物质脉冲来使测量装置(3)得到排空。所述装置的测量装置(3)通过分隔件(6)被分成两个部分,以使得气体脉冲在壁(6)的一侧被引导到靠近测量装置的底部,并在壁(6)的另一侧(7)从底部向上引导。 |
申请公布号 |
CN101855532A |
申请公布日期 |
2010.10.06 |
申请号 |
CN200880103651.6 |
申请日期 |
2008.08.15 |
申请人 |
K·赛佩莱 |
发明人 |
K·赛佩莱 |
分类号 |
G01N1/04(2006.01)I;G01N33/15(2006.01)I |
主分类号 |
G01N1/04(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
张文达 |
主权项 |
一种在某一过程、例如物料粒化过程中用于提取和测量样品的方法,其中所述物料被允许聚积在测量装置中,并且从所述测量装置(3)的测量腔(7)完成所需的测量,其中在所述测量之后所述测量装置(3)借助于引起紊流的并被引入所述测量腔(7)内的气态物质脉冲实现排空,其特征在于:通过这样一个通道(2)来进行样品的采集,所述通道从处理容器(1)的壁平面引向容器外侧的测量腔(7)。 |
地址 |
芬兰赫尔辛基 |