| 发明名称 | 半导体电路、半导体装置以及该半导体电路的检查方法 | ||
| 摘要 | 本发明的半导体电路，第一二极管、第一电阻元件被串联连接在固定电位点和检测端子之间。第二二极管、第二电阻元件被串联连接在第二固定电位点和检测端子之间。通过与检测端子连接的电源的设定而切换第一电阻元件、第二电阻元件中流过的电流，通过流过并测量仅使第一电阻元件、第二电阻元件的一个导通的范围内的多个电流，可以以一个端子检测第一电阻元件、第二电阻元件。 | ||
| 申请公布号 | CN1851487B | 申请公布日期 | 2010.10.06 |
| 申请号 | CN200610075481.8 | 申请日期 | 2006.04.20 |
| 申请人 | 夏普株式会社 | 发明人 | 伊藤弘朗 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I;H03K17/74(2006.01)I;H03K17/60(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 邵亚丽;李晓舒 |
| 主权项 | 一种半导体电路(10)，具有被测量电阻值的第一电阻元件(R1)和第二电阻元件(R2)，其特征在于，还包括：第一固定电位点(11)和第二固定电位点(12)；第一二极管(D1)和第二二极管(D2)；用于测量所述电阻值的所述第一电阻元件(R1)和所述第二电阻元件(R2)共用的检测端子(TEST)，所述第一二极管(D1)通过基于被施加在所述第一固定电位点(11)和所述检测端子(TEST)之间的电位差所进行的开关动作，切换导通状态和截止状态，所述第二二极管(D2)通过基于被施加在所述第二固定电位点(12)和所述检测端子(TEST)之间的电位差所进行的开关动作，切换导通状态和截止状态，所述第一二极管(D1)和所述第一电阻元件(R1)被串联连接在所述第一固定电位点(11)和所述检测端子(TEST)之间，所述第二二极管(D2)和所述第二电阻元件(R2)被串联连接在所述第二固定电位点(12)和所述检测端子(TEST)之间。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||