| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen der Lage der Kante eines Objektes, insbesondere einer Materialbahn (M), umfassend Bestrahlen des Randbereichs des Objektes bzw. der Materialbahn (M) durch zwei nebeneinander angeordnete Sender (1, 2), die auf einer Linie quer zur Kante der Materialbahn liegen und Ermitteln des Schattenwurfs (S1, S2) der Kante der Materialbahn (M) auf einem Sensor (3), der sich unter dieser quer zur Kante der Materialbahn erstreckt, wobei aus dem durch den Sender (1) erzeugten Schattenwurf (S1) und dem vom Sender (2) erzeugten Schattenwurf (S2) die Lage der Kante der Materialbahn ermittelt wird.
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