发明名称 | 开关延迟历史效应的在线测量的集成电路器件及方法 | ||
摘要 | 集成电路器件中的开关延迟历史效应的在线测量技术。将脉冲发下延迟链。该脉冲与环形振荡器的信号基本上同步。对于对应于延迟链的远端的环形振荡器上的确定点,延迟链和环形振荡器包括基本上相同的门。当脉冲到达延迟链的远端时,测量环形振荡器中的信号沿经过的门的数目与延迟链中的相应脉冲沿经过的门的数目的至少一个差异。根据信号沿和相应的脉冲沿所经过的门的数目的该至少一个测量差异,而确定集成电路器件中的一个或多个开关历史。 | ||
申请公布号 | CN101140313B | 申请公布日期 | 2010.09.01 |
申请号 | CN200710139952.1 | 申请日期 | 2007.08.03 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | 马克·B.·科特臣;曼朱尔·布善 |
分类号 | G01R31/265(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/265(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 秦晨 |
主权项 | 一种集成电路器件中的开关延迟历史效应的在线测量方法,包括步骤:将脉冲沿着延迟链发射,其中该脉冲与环形振荡器的信号同步,并且对于对应于延迟链的远端的环形振荡器上的确定点,延迟链和环形振荡器包括相同的门;当脉冲到达延迟链的远端时,测量环形振荡器中的信号沿经过的门的数目与延迟链中的相应脉冲沿经过的门的数目之间的至少一个差异;以及根据信号沿和相应的脉冲沿所经过的门的数目的该至少一个测量差异,而确定集成电路器件中的一个或多个开关历史。 | ||
地址 | 美国纽约 |