| 发明名称 |
Bestemmelse av strukturell helning og azimuth fra resistivitetsmalinger i anisotrope formasjoner |
| 摘要 |
<p>Krysskomponentmålinger i kombinasjon med standard forplantnings-resistivitetsmålinger blir behandlet for å estimere de vertikale og horisontale resistivitetene, relativ fallvinkel og relativ azimutvinkel for en anisotrop grunnformasjon.</p> |
| 申请公布号 |
NO20101020(A) |
申请公布日期 |
2010.08.23 |
| 申请号 |
NO20100001020 |
申请日期 |
2010.07.16 |
| 申请人 |
BAKER HUGHES INC |
发明人 |
WANG TSILI;KIRKWOOD ANDREW D;FANG SHENG;MERCHANT GUALAMABBAS;HART ERIC |
| 分类号 |
G01V3/28;G01V3/18;G01V3/38 |
主分类号 |
G01V3/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
