摘要 |
Es wird ein Nachführtyp-Laserinterferometer (1) bereitgestellt. Eine Musteremissions-Steuerungseinheit (54) steuert einen Änderungsmechanismus (121) so, dass Licht entlang eines vorgegebenen Musters emittiert wird, wenn von einer ersten Beurteilungseinheit (521) beurteilt wird, dass zumindest eine der Lichtempfangsmengen an einer ersten und zweiten Lichtempfangseinheit (413, 422) nicht größer als ein erster Schwellwert ist. Dann veranlasst eine Nachführ-Steuerungseinheit (51) den Änderungsmechanismus (121), einem Retroreflektor (11) weiter zu verfolgen, wenn von einer zweiten Beurteilungseinheit (522) beurteilt wird, dass während einer Zeitdauer, in der die Musteremissions-Steuerungseinheit (54) den Änderungsmechanismus (121) für die Emission von Licht entlang des Musters steuert, beide Lichtempfangsmengen an der ersten und zweiten Lichtempfangseinheit größer als zweite Schwellwerte sind. Das Interferometer (1) emittiert Licht entlang des Musters, um nach dem Retroreflektor (11) zu suchen, wenn es ihn aus dem Blick verliert. Bei einer Erfassung kann das Interferometer (1) den Reflektor (11) wieder weiterverfolgen und die Messung wiederaufnehmen.
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