发明名称 | 补偿分析物分析中的系统延迟和/或外源照明 | ||
摘要 | 一种传感器确定与一团流体中的气态分析物相关的信息。该传感器包括发射体、可发光介质、辐射传感器和处理器。发射体发射具有振荡强度的电磁辐射。可发光介质与一团流体连通并响应于所接收的电磁辐射发射发光辐射。辐射传感器接收发光辐射,并基于所接收的发光辐射的强度产生输出信号。处理器用于在电磁辐射强度振荡上两个或更多预定周期点对所述辐射传感器产生的输出信号抽样,以从样本中确定与所述发射体发射的电磁辐射强度的振荡和所述辐射传感器接收的发光辐射强度的振荡之间的相位差相关的信息。 | ||
申请公布号 | CN101784879A | 申请公布日期 | 2010.07.21 |
申请号 | CN200880103928.5 | 申请日期 | 2008.08.21 |
申请人 | RIC投资有限责任公司 | 发明人 | J·D·马丁;J·R·德尔法瑞洛 |
分类号 | G01N21/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/00(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 王英;刘炳胜 |
主权项 | 一种用于确定与一团流体中的一种或多种气态分析物相关的信息的传感器(10),所述传感器包括:用于发射电磁辐射从而使得所发射电磁辐射的强度以周期性方式振荡的发射体(12);可发光介质(16),所述可发光介质与所述一团流体操作性连通并被布置成接收来自所述发射体的电磁辐射,其中,所述可发光介质响应于所接收的来自所述发射体的电磁辐射而发射发光辐射;被布置成接收所述发光辐射的辐射传感器(14),所述辐射传感器产生输出信号,所述输出信号传达与所接收发光辐射的强度相关的信息;以及处理器(18),所述处理器用于在由所述发射体发射的电磁辐射强度振荡上两个或更多预定周期点对所述辐射传感器产生的输出信号进行抽样,并且其中,所述处理器基于所述输出信号的样本来确定与由所述发射体发射的电磁辐射强度的振荡和由所述辐射传感器接收的发光辐射强度的振荡之间的相位差相关的信息。 | ||
地址 | 美国特拉华 |