发明名称 |
多点检查装置 |
摘要 |
本发明涉及一种用于对存储在存储单元(300)的样本舱(303)中的样本材料进行检查的方法和装置。多点生成器MSG(100)和传输部分(200)在样本舱内产生样本光点(501)阵列。将在前向方向上离开存储单元(300)的输入光(504)映射到CCD阵列(401)上,并且对其进行测量以作为参考。此外,通过垂直于输入光(504)光路安置的第二个CCD阵列对样本舱(303)中激发的荧光(500)进行测量。 |
申请公布号 |
CN101080627B |
申请公布日期 |
2010.06.23 |
申请号 |
CN200580043317.2 |
申请日期 |
2005.12.13 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
D·J·W·克隆德;M·范赫佩恩;M·巴利斯特雷里;M·普林斯 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;B01J19/00(2006.01)I;C12Q1/68(2006.01)I;G01N21/55(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
王英 |
主权项 |
一种利用光对样本材料进行处理的装置,包括:a)存储单元(300),其允许输入光(504)通过,并包括可在其中提供样本材料的样本舱(303);b)照明系统(100、200),其用输入光(504)在所述样本舱(303)内产生样本光点(501)阵列;c)参考检测器(401),其对超出所述样本光点(501)传播的输入光(504)进行测量;d)信号检测器(402),其对所述样本舱(303)中产生的信号光(500)进行测量。e)将所测量的超出所述样本光点(501)传播的输入光(504)的数量作为所测量的在所述样本舱(303)中产生的信号光(500)的数量的参考以确定荧光团的数量的模块。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |