发明名称 一种直接镭射成孔方法
摘要 本发明公开了一种直接镭射成孔方法,为使铜箔厚度控制在要求范围内,许多HDI制造企业采用了减铜的制程工艺,但尚未解决此项工艺技术对铜箔加工厚度能力上的缺陷;本发明提供一种直接镭射成孔方法:设计制作出用于加工电路板盲孔的光学对位点;使用铜箔进行增层压合;采用黑化进行表面处理;用靶孔进行定位,进行激光钻孔,加工出用于定位所用的光学对位点;再次进行激光钻孔,用上述加工出的光学对位点进行定位,定位加工出板内的盲孔。采用本发明后压合后进行刷膜、黑化等两个流程后就可以进入激光钻孔流程,生产流程缩短了一半;且能加工9-12μm厚的铜箔。
申请公布号 CN101745744A 申请公布日期 2010.06.23
申请号 CN200810240153.8 申请日期 2008.12.18
申请人 北大方正集团有限公司;珠海方正科技多层电路板有限公司富山分公司 发明人 姚峰;江辉;王细心;陈臣
分类号 B23K26/38(2006.01)I;B23K26/18(2006.01)I;B23K26/42(2006.01)I 主分类号 B23K26/38(2006.01)I
代理机构 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人 申健
主权项 一种直接镭射成孔方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:A:设计制作出用于加工电路板盲孔的光学对位点;B:使用铜箔进行增层压合;C:采用黑化进行表面处理;D:用靶孔进行定位,进行激光钻孔,加工出用于定位所用的光学对位点;E:再次进行激光钻孔,用上述加工出的光学对位点进行定位,定位加工出板内的盲孔。
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