| 发明名称 | X射线检查系统 | ||
| 摘要 | 1.本外观设计产品名称为x射线检查系统。2.本外观设计产品用于扫描并检查物品。3.本外观设计的设计要点为本外观设计产品的形状。4.最能表明设计要点的图片或者照片：立体图。 | ||
| 申请公布号 | CN301271063S | 申请公布日期 | 2010.06.23 |
| 申请号 | CN200930269264.7 | 申请日期 | 2009.11.30 |
| 申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 陶向前;易裕民;邓佳为;郑燕霞;张建强 |
| 分类号 | 10-05 | 主分类号 | 10-05 |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 王新华 |
| 主权项 | |||
| 地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 | ||