发明名称 一种快速表面质量测量系统
摘要 本发明公开了一种快速表面质量测量系统。包含两套共光路的干涉仪,其中一套补偿噪声用参考干涉仪是专门用于检测环境中的振动、空气扰动等噪声,通过负反馈消除这些背景噪声干扰的影响。另一套测量用主干涉仪采用声光滤光器控制入射到干涉仪的光波长,利用基于GPGPU的大规模并行运算对产生的干涉信号进行处理,能够迅速地获得被测表面的三维形貌。本发明能实时测量,且测量过程中无需机械光程扫描,可以达到很快的测量速度,平均1-2秒就能更新一次,经过优化后可望更快;加上主动光路补偿技术,减少环境噪声对测量带来的影响;达到亚纳米级的测量精度;造价较为低廉,省去了通常昂贵的高精度平移台,它可用于干扰较多的加工车间里。
申请公布号 CN101718520A 申请公布日期 2010.06.02
申请号 CN200910153879.2 申请日期 2009.11.16
申请人 浙江大学 发明人 汪凯巍;杨将新;曹衍龙;金鹭;汪琛琛
分类号 G01B11/00(2006.01)I;G01B11/30(2006.01)I;G01B9/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/00(2006.01)I
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人 林怀禹
主权项 一种快速表面质量测量系统,其特征在于:包括两套耦合在一起的干涉仪组成,其中:1)一套测量用主干涉仪:包括数据采集卡(1),计算机(2),图像采集卡(3),三个分光镜(4、14、15),相机(5),两个物镜(7、13),参考反射镜(10),成像透镜(11),准直镜(16),可调谐滤光器(17)、白光光源(18)和滤光器驱动单元(20);白光光源(18)发出的入射光,经过可调谐滤光器(17)、准直镜(16)后成为平行光、经第一分光镜(15)至第二分光镜(14)后,将入射光分为两路,一路光经第一物镜(7)入射到参考镜(10)上,另一路经第二物镜(13)入射到被测样品(12)表面,入射到参考镜(10)和被测样品(12)表面上的光分别被反射后重新在第二分光镜(14)处叠加形成干涉,干涉光经成像透镜(11)、第三分光镜(4)后重新分成两路光,其中分光镜(4)对白光(18)发出的光全透过,经图像采集卡(3)、计算机(2)处理后获得被测样品的面形,可调谐滤光器(17)的输出波长由计算机(2)经由数据采集卡(1)改变滤光器驱动单元(20)的输出频率来控制;2)一套补偿噪声用参考干涉仪:包括扩束器(19),激光器(21),探测器(6),伺服控制电路(8)和补偿压电陶瓷(9);激光器(21)发出的激光经扩束器(19)经第一分光镜(15)后与白光光源(18)耦合在一起,对激光器(21)发出的激光在第三分光镜(4)处被反射至探测器(6)转变为光电信号,伺服控制电路(8)利用此光电信号控制补偿压电陶瓷(9)来抑制环境噪声对测量的干扰。
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