基于外差技术测试相位调制器半波电压装置及方法

摘要

本发明公开了一种基于外差技术测试相位调制器半波电压装置及方法。它包括激光器、第一50％耦合器、相位调制器、声光移频器、第二50％耦合器、光电探测器、矢量分析仪、第一信号发生器、第二信号发生器；激光器与第一50％耦合器、相位调制器、第二50％耦合器、光电探测器、矢量分析仪依次相连，第一50％耦合器与声光移频器、第二50％耦合器依次相连，相位调制器与第一信号发生器相连，声光移频器与第二信号发生器相连。本发明提供了一种精确测试相位调制器半波电压的方法，利用测试得到的半波电压能有效抑制相位调制中的载波分量，降低谐振式光学陀螺中的背向散射噪声，为谐振式光学陀螺的精度提高提供了一种切实可行的方法，具有重要的科学意义与应用价值。

主权项

一种基于外差技术测试相位调制器半波电压装置，其特征在于包括激光器(1)、第一50％耦合器(2)、相位调制器(3)、声光移频器(4)、第二50％耦合器(5)、光电探测器(6)、矢量分析仪(7)、第一信号发生器(8)、第二信号发生器(9)；激光器(1)与第一50％耦合器(2)、相位调制器(3)、第二50％耦合器(5)、光电探测器(6)、矢量分析仪(7)依次相连，第一50％耦合器(2)与声光移频器(4)、第二50％耦合器(5)依次相连，相位调制器(3)与第一信号发生器(8)相连，声光移频器(4)与第二信号发生器(9)相连。