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发明名称 SURFACE DEFECT EVALUATION DEVICE
摘要
申请公布号 JP2010107301(A) 申请公布日期 2010.05.13
申请号 JP20080278402 申请日期 2008.10.29
申请人 AISIN SEIKI CO LTD;HOKKAIDO UNIV 发明人 TODA MASATAKA;YOSHIKAWA SATOHIKO;KAMIYA MASASHI;KANEKO SHUNICHI;TAKAUJI HIDENORI;KASHIBA KOSHI
分类号 G01B11/30;G01N21/88;G06T1/00 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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