发明名称 |
一种基于安腾平台的ITP通路的测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种基于安腾平台的ITP通路的测试方法,属于计算机硬件领域,该方法步骤如下:在计算机主板电源回路上串联产生一定频率正弦波的晶振,晶振之后依次串联有施密特触发器,ITP端单刀双掷开关,设备终端单刀双掷开关和发光二极管组。本发明的基于安腾平台的ITP通路的测试方法与现有技术相比,在多路系统中使用ITP设备调测试时,有效测试每一路系统ITP网络的通断情况,另有可视的LED发光二极管组指示,很容易判断具体是哪一路出现断路问题,给调测试工程师带来极大地便利,节省工程师debug时间。适用于当前复杂的多路服务器系统,具有非常广阔的发展前景。 |
申请公布号 |
CN101697143A |
申请公布日期 |
2010.04.21 |
申请号 |
CN200910229484.6 |
申请日期 |
2009.10.27 |
申请人 |
浪潮电子信息产业股份有限公司 |
发明人 |
李博乐 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种基于安腾平台的ITP通路的测试方法,其特征在于在计算机主板电源回路上串联产生一定频率正弦波的晶振,晶振之后依次串联有施密特触发器,ITP端单刀双掷开关,设备终端单刀双掷开关和发光二极管组。 |
地址 |
250014 山东省济南市历下区山大路224号 |