| 摘要 |
1. Способ тестирования массива памяти, имеющего множество портов записи, в процессоре, содержащий этапы, на которых ! записывают первый шаблон данных по первому адресу в массив через первый порт записи, ! одновременно записывают второй шаблон данных по второму адресу в массив через второй порт записи, ! считывают первый и второй шаблоны данных из массива, и ! сравнивают первый и второй шаблоны данных, считанные из массива, с первым и вторым шаблонами данных, записанными в массив, соответственно. ! 2. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором записывают фоновый шаблон данных в по меньшей мере первый и второй адреса в массиве, до записи первого и второго шаблонов данных. ! 3. Способ по п.1, в котором первый и второй шаблоны данных одинаковы. ! 4. Способ по п.1, в котором первый и второй шаблоны данных различны. ! 5. Способ по п.1, в котором первый и второй адреса являются соседними. ! 6. Способ по п.1, в котором первый и второй адреса не являются соседними. ! 7. Способ по п.1, в котором запись и чтение тестовых шаблонов осуществляется на рабочей частоте интегральной схемы. ! 8. Способ тестирования массива памяти, имеющего множество портов чтения, в процессоре, содержащий этапы, на которых ! записывают первый шаблон данных по первому адресу в массив, ! записывают второй шаблон данных по второму адресу в массив, ! считывают первый шаблон данных из массива через первый порт чтения, !одновременно считывают второй шаблон данных из массива через второй порт чтения, и ! сравнивают первый и второй шаблоны данных, считанные из массива, с первым и вторым шаблонами данных, записанными в массив, соответственно. ! 9. Способ по п.8, дополн |
