发明名称 形成内连线结构的方法与填充铜的镶嵌结构
摘要 一种填充铜的镶嵌结构与其形成方法,此方法包括:提供一基底;形成绝缘层于上述基底上;形成镶嵌开口穿过上述绝缘层一厚度;形成扩散阻障层以衬着(line)上述镶嵌开口;形成第一晶种层于上述扩散阻障层上;以第一处理电浆对上述第一晶种层同处(in-situ)进行电浆处理,此第一处理电浆所包括的电浆源气体系择自氩气、氮气、氢气与氨气所组成之族群中;形成第二晶种层于上述第一晶种层上;藉由电化学电镀(electro-chemical plating,简称ECP)形成铜层于上述第二晶种层上以填充上述镶嵌开口;以及平坦化上述铜层以形成金属内连线结构。
申请公布号 TWI322483 申请公布日期 2010.03.21
申请号 TW093136280 申请日期 2004.11.25
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 吴炳坤;曾鸿辉;罗吉进;王昭雄;眭晓林
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项 一种形成内连线结构的方法,包括:提供一基底;形成一绝缘层于上述基底上;形成一镶嵌开口穿过上述绝缘层一厚度;形成一扩散阻障层以衬着上述镶嵌开口;形成第一晶种层于上述扩散阻障层上;以第一处理电浆对上述第一晶种层进行电浆处理,此第一处理电浆所包括的电浆源气体系择自氩气、氮气、氢气与氨气所组成之族群中;形成第二晶种层于上述第一晶种层上;藉由电化学电镀(electro-chemical plating,简称ECP)形成一铜层于上述第二晶种层上以填充上述镶嵌开口;以及平坦化上述铜层以形成一金属内连线结构。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号