发明名称 | X射线成像 | ||
摘要 | 一种X射线扫描装置,用于定位产品中的杂质,所述装置包括:用于生成产品的X射线图像的设备;用于对多个像素指派灰度值的设备;用于识别多个可疑像素的设备;一设备,对于每个可疑像素执行如下操作:选择在位于可疑像素的相对侧上的第一方向上的两个相邻像素并且确定哪个第一方向像素具有最低的灰度值;选择在位于可疑像素的相对侧上的第二方向上的两个相邻像素并且确定哪个第二方向像素具有最低的灰度值;通过考虑最低灰度值第一方向像素和可疑像素的灰度值之间的灰度值差值,确定第一方向差;通过考虑最低灰度值第二方向像素和可疑像素的灰度值之间的灰度值差,确定第二方向差值;从第一方向差值确定第一方向分数;从第二方向差值确定第二方向分数;将所述分数和阈值相比较;并且如果超过了所述阈值,则将可疑像素识别为代表杂质。 | ||
申请公布号 | CN101675457A | 申请公布日期 | 2010.03.17 |
申请号 | CN200880014847.8 | 申请日期 | 2008.05.13 |
申请人 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 发明人 | 克里斯托弗·詹姆斯·凯恩;阿兰·斯蒂芬·德克尔 |
分类号 | G06T7/00(2006.01)I | 主分类号 | G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 脱 颖;张景烈 |
主权项 | 1.一种X射线扫描装置,用于定位产品中的杂质,所述装置包括:用于生成产品的X射线图像的设备;用于对多个像素指派灰度值的设备;用于识别多个可疑像素的设备;一设备,对于每个可疑像素执行如下操作:选择在位于可疑像素的相对侧上的第一方向上的两个相邻像素并且确定哪个第一方向像素具有最低的灰度值;选择在位于可疑像素的相对侧上的第二方向上的两个相邻像素并且确定哪个第二方向像素具有最低的灰度值;通过考虑最低灰度值第一方向像素和可疑像素的灰度值之间的灰度值差,确定第一方向差值;通过考虑最低灰度值第二方向像素和可疑像素的灰度值之间的灰度值差,确定第二方向差值;从第一方向差值确定第一方向分数;从第二方向差值确定第二方向分数;将所述分数和阈值相比较;以及如果超过了所述阈值,则将可疑像素识别为代表杂质。 | ||
地址 | 美国伊利诺伊州 |