发明名称 | 像差校正元件 | ||
摘要 | 一种相差校正装置,包括:衍射面,配置来通过透射从第一光源发射的第一光束来在第一记录介质上读取和写入数据,衍射从第二光源发射的第二光束来在第二记录介质上读取和写入数据,并且衍射从第三光源发射的第三光束来在第三记录介质上读取和写入数据,从而校正第一、第二和第三光学记录介质中的差异引起的球面像差;相移面,包括阶梯形状,阶梯的高度在室温下具有波长的整数倍,根据温度变化,相移面产生具有与针对第一光学记录介质优化的物镜产生的球面像差ΔSA的相反的方向的球面像差-ΔSA,像差校正装置满足下面的公式1:(如图)其中dn/dT表示基于温度变化,树脂材料的折射系数的变化;dh/dT表示基于温度变化,阶梯的高度的变化,而m表示多个阶梯的数量。 | ||
申请公布号 | CN101667433A | 申请公布日期 | 2010.03.10 |
申请号 | CN200910169103.X | 申请日期 | 2009.09.07 |
申请人 | 株式会社理光 | 发明人 | 中沼宽 |
分类号 | G11B7/135(2006.01)I | 主分类号 | G11B7/135(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 王 冉;杨 梧 |
主权项 | 1.一种相差校正装置,包括:衍射面,配置来通过透射从第一光源发射的具有波长λ1的第一光束来在包括具有t1的厚度的基片的第一记录介质上读取和写入数据,衍射从第二光源发射的具有波长λ2的第二光束来在包括具有t2的厚度的基片的第二记录介质上读取和写入数据,并且衍射从第三光源发射的具有波长λ3的第三光束来在包括具有t3的厚度的基片的第三记录介质上读取和写入数据,从而校正所述第一光学记录介质、所述第二光学记录介质和所述第三光学记录介质中的差异引起的球面像差;相移面,包括沿光轴方向具有以轮带方式形成的多个阶梯的阶梯形状,所述阶梯的高度在室温下具有波长λ1、λ2和λ3的整数倍,根据温度变化,所述相移面产生具有与针对所述第一光学记录介质优化的物镜产生的球面像差ΔSA的相反的方向的球面像差-ΔSA,其中,所述像差校正装置由树脂材料形成,并且满足下面的公式1:<maths id="math0001" num="0001" ><math><![CDATA[ <mrow> <mo>-</mo> <mn>3.6</mn> <mo>×</mo> <msup> <mn>10</mn> <mrow> <mo>-</mo> <mn>10</mn> </mrow> </msup> <mo>≤</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mfrac> <mi>dn</mi> <mi>dT</mi> </mfrac> <mo>)</mo> </mrow> <mo>×</mo> <mrow> <mo>(</mo> <mfrac> <mi>dn</mi> <mi>dT</mi> </mfrac> <mo>)</mo> </mrow> <mo>×</mo> <mi>m</mi> <mo>≤</mo> <mo>-</mo> <mn>2.1</mn> <mo>×</mo> <msup> <mn>10</mn> <mrow> <mo>-</mo> <mn>10</mn> </mrow> </msup> </mrow>]]></math></maths>公式1其中dn/dT表示基于1℃变化,所述树脂材料的折射系数的变化,dh/dT表示基于1℃变化,所述阶梯的高度的变化,而m表示多个阶梯的数量,并且是大于1的整数。 | ||
地址 | 日本东京都 |