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发明名称 VERFAHREN UND STRUKTUR ZUR ENTWICKLUNG EINES TESTPROGRAMMS FÜR INTEGRIERTE HALBLEITERSCHALTUNGEN
摘要
申请公布号 DE602005018205(D1) 申请公布日期 2010.01.21
申请号 DE200560018205T 申请日期 2005.05.23
申请人 ADVANTEST CORP. 发明人 SINGH, HARSANJEET;PRAMANICK, ANKAN;ELSTON, MARK;TAHARA, YOSHIFUMI;ADACHI, TOSHIAKI
分类号 G01R31/319;G01R31/3183;G06F11/26;G06F17/50 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
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