发明名称 Structure and method for forming a thick bottom dielectric (TBD) for trench-gate devices
摘要 Ein Halbleiteraufbau, der einen FET mit Trench-Gate umfasst, wird wie folgt ausgebildet. Es werden mehrere Gräben in einem Halbleitergebiet unter Verwendung einer Maske ausgebildet. Die Maske umfasst (i) eine erste Isolierschicht über einer Fläche des Halbleitergebiets, (ii) eine erste Oxidationsbarrierenschicht über der ersten Isolierschicht, und (iii) eine zweite Isolierschicht über der ersten Oxidationsbarrierenschicht. Entlang dem Boden jedes Grabens wird ein dickes Bodendielektrikum (TBD) ausgebildet. Die erste Oxidationsbarrierenschicht verhindert die Ausbildung einer Dielektrikumschicht entlang der Fläche des Halbleitergebiets während der Ausbildung des TBD.
申请公布号 DE102009025601(A1) 申请公布日期 2010.01.14
申请号 DE200910025601 申请日期 2009.06.19
申请人 FAIRCHILD SEMICONDUCTOR CORP. 发明人 PAN, JAMES;REXER, CHRISTOPHER LAWRENCE
分类号 H01L21/335;H01L29/772 主分类号 H01L21/335
代理机构 代理人
主权项
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