发明名称 Verfahren zum Herstellen einer einkristallinen Schicht
摘要 Bei einem Verfahren zum Herstellen einer einkristallinen Schicht mit einer ersten Gitterkonstanten auf einem einkristallinen Substrat, das zumindest in einem oberflächennahen Bereich eine zweite Gitterkonstante aufweist, die sich von der ersten Gitterkonstanten unterscheidet, werden in den oberflächennahen Bereich Gitteranpassungsatome implantiert. Der oberflächennahe Bereich wird kurzzeitig aufgeschmolzen und auf dem einkristallin erstarrten oberflächennahen Bereich wird eine Schicht epitaktisch abgeschieden.
申请公布号 DE102008032171(A1) 申请公布日期 2010.01.14
申请号 DE200810032171 申请日期 2008.07.08
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 HIRLER, FRANZ;SCHULZE, HANS-JOACHIM
分类号 H01L21/265;C30B25/18;H01L21/20 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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