发明名称 |
Verfahren zum Herstellen einer einkristallinen Schicht |
摘要 |
Bei einem Verfahren zum Herstellen einer einkristallinen Schicht mit einer ersten Gitterkonstanten auf einem einkristallinen Substrat, das zumindest in einem oberflächennahen Bereich eine zweite Gitterkonstante aufweist, die sich von der ersten Gitterkonstanten unterscheidet, werden in den oberflächennahen Bereich Gitteranpassungsatome implantiert. Der oberflächennahe Bereich wird kurzzeitig aufgeschmolzen und auf dem einkristallin erstarrten oberflächennahen Bereich wird eine Schicht epitaktisch abgeschieden.
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申请公布号 |
DE102008032171(A1) |
申请公布日期 |
2010.01.14 |
申请号 |
DE200810032171 |
申请日期 |
2008.07.08 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG |
发明人 |
HIRLER, FRANZ;SCHULZE, HANS-JOACHIM |
分类号 |
H01L21/265;C30B25/18;H01L21/20 |
主分类号 |
H01L21/265 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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