发明名称 接口电路和半导体集成电路
摘要 本发明公开了接口电路和半导体集成电路。接口电路包括:驱动器电路(12),其由多个晶体管的组合构成;校准电路(14),其用于对所述多个晶体管中的一个或更多个晶体管的导通和截止进行选择,从而调整所述多个晶体管的导通电阻;以及终端电阻(13),其连接到所述驱动器电路(12)的输出端。基于所述校准电路(14)的输出来导通所述一个或更多个晶体管,以使得导通电阻和所述终端电阻的组合电阻值与所述传输线的特性阻抗匹配。驱动器电路(12)、校准电路(14)和终端电阻(13)形成在同一半导体集成电路SK上,并且校准电路(14)用于检测形成在所述半导体集成电路SK上的晶体管和电阻器的工艺变化及其温度变化。
申请公布号 CN100580650C 申请公布日期 2010.01.13
申请号 CN200710160811.8 申请日期 2007.12.18
申请人 富士通株式会社 发明人 速水数德;大谷哲也
分类号 G06F13/40(2006.01)I;H03K19/00(2006.01)I;H03K19/003(2006.01)I;H04L25/02(2006.01)I 主分类号 G06F13/40(2006.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 代理人 孙海龙
主权项 1、一种用于通过传输线进行信号传输的接口电路,该接口电路包括:驱动器电路,其由多个晶体管的组合构成;校准电路,其用于对所述多个晶体管中的一个或更多个晶体管的导通和截止进行选择,从而调整所述多个晶体管的导通电阻;以及终端电阻,其连接在所述驱动器电路的输出端和所述传输线之间,其中,所述驱动器电路、所述校准电路和所述终端电阻形成在同一半导体集成电路上,其中,所述校准电路用于检测形成在所述半导体集成电路上的晶体管和电阻器的工艺变化及其温度变化,并且所述校准电路包括:恒流电路,其向形成在所述半导体集成电路上的晶体管和电阻器提供恒定电流,以及检测电路,其用于通过检测由所述恒定电流分别在所述晶体管和所述电阻器中产生的电压来检测所述工艺变化和温度变化,并且其中,基于所述校准电路的输出来导通所述多个晶体管中的一个或更多个晶体管,以使得所述多个晶体管的导通电阻和所述终端电阻的组合电阻值与所述传输线的特性阻抗匹配。
地址 日本神奈川县川崎市