发明名称 利用光辅助氧化湿法刻蚀Ⅲ族氮化物的方法
摘要 一种利用光辅助氧化湿法刻蚀III族氮化物的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:利用标准的光刻工艺在III族氮化物表面制作有图案的紫外光掩蔽层;步骤2:将表面上制作有图案的紫外光掩蔽层的III族氮化物置于高能紫外光下曝光,使具有图案的暴露的III族氮化物在紫外光辅助下发生氧化,生成金属氧化物;步骤3:去除掩蔽层;步骤4:将曝光后的III族氮化物的样品放在酸或碱性溶液中,将生成的金属氧化物完全腐蚀掉,形成带有图案的刻蚀台阶,完成湿法刻蚀III族氮化物的工艺。
申请公布号 CN101625971A 申请公布日期 2010.01.13
申请号 CN200810116414.5 申请日期 2008.07.09
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 刘文宝;孙苋;赵德刚;刘宗顺;张书明;朱建军;杨辉
分类号 H01L21/302(2006.01)I 主分类号 H01L21/302(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种利用光辅助氧化湿法刻蚀III族氮化物的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:利用标准的光刻工艺在III族氮化物表面制作有图案的紫外光掩蔽层;步骤2:将表面上制作有图案的紫外光掩蔽层的III族氮化物置于高能紫外光下曝光,使具有图案的暴露的III族氮化物在紫外光辅助下发生氧化,生成金属氧化物;步骤3:去除掩蔽层;步骤4:将曝光后的III族氮化物的样品放在酸或碱性溶液中,将生成的金属氧化物完全腐蚀掉,形成带有图案的刻蚀台阶,完成湿法刻蚀III族氮化物的工艺。
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