发明名称 | 优化图案强度轮廓的方法 | ||
摘要 | 所公开的原理包括一种方法和程序产品,用于最优化图案的强度轮廓,该图案利用光学系统相对于给定掩模在基板表面中形成。其步骤包括用数学方法表示从给定掩模中可分辨的特征,生成表示光学系统特定特征的数学表达式,特征函数,通过滤波修正数学特征函数,根据给定掩模的数学表达式和滤波后的特征函数生成干涉图,并且基于干涉图确定对于给定掩模的辅助特征。结果,可以使基板上的非期望印制最小化。 | ||
申请公布号 | CN100576066C | 申请公布日期 | 2009.12.30 |
申请号 | CN200410103875.0 | 申请日期 | 2004.10.29 |
申请人 | ASML蒙片工具有限公司 | 发明人 | T·莱迪 |
分类号 | G03F1/14(2006.01)I | 主分类号 | G03F1/14(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 王波波 |
主权项 | 1.一种优化图案强度轮廓的方法,利用光学系统相对于给定掩模在基板表面中形成该图案,包括步骤:(a)用数学方法表示代表给定掩模的期望印制行为的目标函数;(b)生成表示光学系统特定特征的数学表达式;(c)修正步骤(b)的数学表达式;(d)根据步骤(a)和步骤(c)的结果生成干涉图;(e)基于步骤(d)的干涉图确定给定掩模的辅助特征,其中修正步骤(b)的数学表达式使基板表面中的非期望印刷最小化,而其中步骤(b)产生的数学表达式是表示光学系统特定特征的至少一个特征函数,且其中修正步骤(b)的数学表达式包括对该至少一个特征函数进行滤波,所述滤波仅针对表示旁瓣的函数部分,以去除直流分量和低空间频率。 | ||
地址 | 荷兰维尔德霍芬 |