发明名称 |
用于调整性能的闭环控制 |
摘要 |
本发明涉及一种方法及电路设置,其响应于受监视的性能指标而控制集成电路的性能,其中基于所述性能指标控制集成电路的电源。在所述集成电路中产生的受控电源的噪声电平及时钟频率的至少之一被监视,如果检查结果不在预定的范围内,则相应的控制信号被反馈到控制功能中。从而对于工艺变化可以实现一个简单的且容易扩展的自适应。 |
申请公布号 |
CN100576146C |
申请公布日期 |
2009.12.30 |
申请号 |
CN200580027651.9 |
申请日期 |
2005.06.09 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
F·帕索拉诺;R·I·M·P·梅杰;J·D·J·皮尼达德吉维茨 |
分类号 |
G06F1/28(2006.01)I;G06F1/32(2006.01)I |
主分类号 |
G06F1/28(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
1.一种电路设备,用于响应于受监视的性能指标控制集成电路的性能,所述电路设备包括:a)性能控制装置(20),用于接收所述性能指标,并基于所述性能指标控制所述集成电路的电源,以及b)监视装置(60,71-75,76,78,79),用于至少检查受控电源的噪声电平,并用于如果该检查结果不在预定的范围内,则给所述性能控制装置发出所述监视装置的控制信号(A,B),其中所述监视装置包括电源噪声监视器装置(60),其用于检查电源电压的噪声是否超过预定的最大值。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |