| 发明名称 | 物质识别系统中的实时标定设备和方法 | ||
| 摘要 | 公开了一种用于高能X射线双能成像集装箱检查系统的实时标定设备和方法，涉及辐射成像领域。该方法包括：发射具有第一能量的第一主射线束和第一辅射线束，和具有第二能量的第二主射线束和第二辅射线束；使第一主射线束和第二主射线束透射被检物体；使第一辅射线束和第二辅射线束透射至少一个实时标定材料块；采集透射被检物体的第一主射线束和第二主射线束的值，作为双能数据；采集透射实时标定材料块的第一辅射线束和第二辅射线束的值，作调整参数；基于该调整参数对该组分类参数进行调整；以及根据调整后的分类参数对双能数据进行材料识别处理。本发明简化了高能双能系统的物质识别分系统的标定流程，提升了系统的材料分辨效果的稳定性。 | ||
| 申请公布号 | CN101614683A | 申请公布日期 | 2009.12.30 |
| 申请号 | CN200810115788.5 | 申请日期 | 2008.06.27 |
| 申请人 | 清华大学;同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 胡海峰;康克军;张丽;王学武;黄清萍;李元景;刘以农;赵自然;武祯 |
| 分类号 | G01N23/087(2006.01)I;G01N23/10(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/087(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 王波波 |
| 主权项 | 1、一种物质识别系统中的实时标定方法，该物质识别系统基于一组分类参数对被检物体的物质进行识别，该方法包括步骤：发射具有第一能量的第一主射线束和第一辅射线束，和具有第二能量的第二主射线束和第二辅射线束；使第一主射线束和第二主射线束透射被检物体；使第一辅射线束和第二辅射线束透射至少一个实时标定材料块；采集透射被检物体的第一主射线束和第二主射线束的值，作为双能数据；采集透射实时标定材料块的第一辅射线束和第二辅射线束的值，作调整参数；基于该调整参数对该组分类参数进行调整；以及根据调整后的分类参数对双能数据进行材料识别处理。 | ||
| 地址 | 100084北京市海淀区清华大学 | ||