发明名称 用于过程控制系统的诊断设备
摘要 诊断设备(10)包括用于接收过程的过程介质的过程变量的过程变量值(x(t))的接收装置(100),用于从在测量阶段(300)期间测量的这样的过程变量值提取和记录测量结果统计数据的测量结果处理装置(300),用于从在训练阶段期间测量的这样的过程变量值提取和记录训练统计数据的训练处理装置,和用于比较测量结果统计数据与在测量结果统计数据之前记录的训练统计数据的比较装置(400)。优选地,训练统计数据包括训练经验统计分布,其能够为在训练阶段期间测量的过程变量值的函数的分布,或为在训练阶段期间测量的过程变量值(x(t))的变换的函数的系数的系数X<sub>t</sub>(k)的函数的分布。
申请公布号 CN100573381C 申请公布日期 2009.12.23
申请号 CN200580048350.4 申请日期 2005.02.15
申请人 ABB研究有限公司 发明人 A·安登纳;A·莫罗尼;G·因弗尼兹
分类号 G05B19/418(2006.01)I;G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B19/418(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 原绍辉;黄力行
主权项 1.一种诊断设备(10),其包括-用于接收过程的过程介质(2)的过程变量的过程变量值(x(t))的接收装置(100),-测量结果处理装置(300),其用于从在测量阶段(300)期间测量的所述过程变量值提取和记录测量结果统计数据并且用于计算在测量阶段(300)期间测量的过程变量值(x(t))的变换得到一组正交函数的系数Xm(k),并且包括-训练处理装置(200),其用于从在训练阶段(200)期间测量的所述过程变量值提取和记录训练统计数据,用于计算训练经验统计分布(250;251),用于计算在测量阶段(300)期间测量的过程变量值(x(t))的变换得到一组正交函数的系数Xm(k)由此训练经验统计分布(250)为系数Xt(k)的函数的分布,并且用于计算近似训练经验统计分布(250)的训练解析分布函数(270;271),并且包括-用于比较测量结果统计数据与在测量结果统计数据之前记录的训练统计数据的比较装置(400)其特征在于,测量结果统计数据包括测量结果经验统计分布(351),其为系数Xm(k)的函数的分布,并且训练统计数据包括训练解析分布函数(271),并且比较装置(400)在对测量结果经验统计分布(351)与训练解析分布函数(271)的一致性的统计测试的置信水平低于可规定的阈值的情况下输出故障指示。
地址 瑞士苏黎世