| 摘要 |
<p>Eine Vorrichtung zur Vermessung von gekrümmten rotationssymmetrischen oder zylindrischen Oberflächen (12), insbesondere von Linsenflächen, weist einen Topografiesensor (118) auf, mit dem topografische Daten eines Punktes, einer Linie oder eines Flächenelements auf der Oberfläche (12) messbar sind. Der Topografiesensor (118) und die Oberfläche (12) sind relativ zueinander in einer Verfahrebene (124) verfahrbar. Die Verfahrebene (124) ist zu einer Symmetrieachse (16) bzw. Symmetrieebene der rotationssymmetrischen oder zylindrischen Oberfläche (12) in einem Winkel ungleich 90° angeordnet. Erfindungsgemäß weist die Vorrichtung einen zusätzlichen Zentrierungssensor auf, mit dem die Symmetrieachse oder Symmetrieebene des Gegenstands hochgenau vermessen werden kann. Damit ist es z.B. möglich, lediglich halbe Diagonalschnitte durch die Oberfläche (12) zu messen und die andere Hälfte der Diagonalschnitte durch rechnerische Spiegelung der gemessenen halben Diagonalschnitts an der Symmetrieachse bzw. Symmetrieebene zu ermitteln.</p> |
