开发用于半导体集成电路的测试程序的方法和结构

摘要

公开了开发用于半导体测试系统的测试程序的方法。该方法包括以测试程序语言(TPL)描述测试计划文件，其中该测试计划文件描述测试程序的至少一个测试；以系统程序语言(SPL)描述测试类文件并以TPL描述该测试类文件的相应的预编译头文件，其中该测试类文件描述测试程序的至少一个测试的实施；以及使用测试计划文件、测试类文件和预编译头文件来生成测试程序。

主权项

1.一种开发用于半导体测试系统的测试程序的方法，所述测试系统包括至少一个测试模块，用于根据所述测试程序对被测设备施加至少一个测试，包括：以测试程序语言TPL描述测试计划文件，其中所述测试计划文件描述所述测试程序中的至少一个测试；以系统程序语言SPL描述测试类文件且以所述TPL描述所述测试类文件中相应的预编译头文件，其中所述测试类文件描述所述测试程序中的至少一个测试的实现；由TPL编译器对所述测试计划文件进行编译，以形成以所述SPL描述的得出的测试计划文件；由所述TPL编译器对所述预编译头文件进行编译，以形成以所述SPL描述的头文件；以及使用所述得出的测试计划文件、所述测试类文件和所述头文件生成测试程序。