发明名称 半导体结构及其制造方法
摘要 本发明提供一种半导体结构的制造方法,包括下列步骤:提供一半导体基底,该半导体基底包含一第一区及一第二区;形成一第一MOS元件,包括:于该半导体基底的该第一区上形成一第一矽锗材料层;于该第一矽锗材料层上形成一矽材料层;于该矽材料层上形成一第一闸极介电层;以及图案化该第一闸极介电层以形成一第一闸极介电结构。
申请公布号 TW200939398 申请公布日期 2009.09.16
申请号 TW097123688 申请日期 2008.06.25
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 陈鼎元;余振华
分类号 H01L21/8238(2006.01);H01L27/092(2006.01) 主分类号 H01L21/8238(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号