发明名称 光载流子延迟线
摘要 本发明公开了一种光载流子延迟线,包括激发激光器1、第一透镜2、半导体材料3、检测激光器4、第二透镜5和光电探测器6,射频电信号S(t)调制激发激光器1,经调制的激发光经过第一透镜2聚焦后照射在半导体材料3上,在半导体材料3内产生浓度随调制激发光变化的非平衡载流子,并向四周扩散,载流子浓度的变化就会引起材料折射率的变化,检测激光器4发出检测光经第二透镜5聚焦后,以入射角β照射在半导体材料3内的载流子扩散范围内的某一处,则检测光经过半导体材料3的出射光载有延迟了的激发光信号的信息,将其通过光电检测器6变换为射频电信号V(t),信号V(t)就是延时了的射频电信号S(t)。
申请公布号 CN101526646A 申请公布日期 2009.09.09
申请号 CN200910058916.1 申请日期 2009.04.13
申请人 电子科技大学 发明人 高椿明;赵斌兴;周鹰;杨立峰;王占平;张希仁
分类号 G02B6/28(2006.01)I 主分类号 G02B6/28(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1、一种光载流子延迟线,包括激发激光器(1)、第一透镜(2)、半导体材料(3)、检测激光器(4)、第二透镜(5)和光电探测器(6),其特征在于,射频电信号S(t)调制激发激光器(1),经调制的激发光经过第一透镜(2)聚焦后照射在半导体材料(3)上,在半导体材料(3)内产生浓度随调制激发光变化的非平衡载流子,并向四周扩散,载流子浓度的变化就会引起材料折射率的变化,检测激光器(4)发出检测光经第二透镜(5)聚焦后,以入射角β照射在半导体材料(3)内的载流子扩散范围内的某一处,β在0和全反射角之间,半导体材料(3)在此处的折射率随经调制的激发光信号而发生变化,光透过率也相应的发生变化,此处折射率的变化是延迟了的调制激发光信号的反映,则检测光经过半导体材料(3)的出射光载有延迟了的激发光信号的信息,将其通过光电检测器(6)变换为射频电信号V(t),信号V(t)就是延时了的射频电信号S(t)。
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