发明名称 |
一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法,包括如下步骤:建立薄膜厚度h、折射率n、消光系数k与薄膜透射率、反射率的函数关系,与实测镀膜玻璃的可见光透射、反射光谱联立构成曲线拟和问题,利用模拟退火法、牛顿迭代法相结合的两步法求解这个曲线拟和问题,从而获得薄膜光学参数的测量结果。本发明与已有的相应技术相比,更适于镀膜玻璃薄膜的测量,具有快速准确的测量效果,测量结果稳定,而且方法简便易行,成本低廉。 |
申请公布号 |
CN100538327C |
申请公布日期 |
2009.09.09 |
申请号 |
CN200610053955.9 |
申请日期 |
2006.10.25 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
韩高荣;刘涌;宋晨路;汪剑勋;刘军波;刘起英 |
分类号 |
G01N21/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/00(2006.01)I |
代理机构 |
杭州求是专利事务所有限公司 |
代理人 |
韩介梅 |
主权项 |
1、一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法,其特征是步骤如下:测量镀膜玻璃在可见光垂直入射状态下的透射和反射光谱,分别记为Tm、Rm,利用矩阵法获得垂直入射状态下的薄膜透射和反射光谱关于n、k和薄膜厚度h的参数式,记为Tc(n,k,h)、Rc(n,k,h),并将n和k展开为入射光波长λ的函数,建立Tc(n,k,h)、Rc(n,k,h)与Tm、Rm最小二乘形式的拟和参数式,如式(1)所示,求解式(1),得到使f(n,k,h)为最小值的一组参数n,k和h,就是测量获得的镀膜玻璃薄膜光学参数。 |
地址 |
310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 |