| 发明名称 | 一种药用蒙脱石X射线衍射图谱鉴别标准 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种药用蒙脱石的X射线衍射图谱鉴别标准，其特征在于蒙脱石X射线衍射图谱的特征谱线在约1.5nm和约0.45nm波长处，图谱中其它杂质峰强度不得高于蒙脱石的第二个特征峰(约0.45nm波长处)，其中在约0.40nm波长处和约0.33nm波长处的两个杂质峰强度之和不得高于蒙脱石的第二个特征峰(约0.45nm波长处)。 | ||
| 申请公布号 | CN101504379A | 申请公布日期 | 2009.08.12 |
| 申请号 | CN200910013765.8 | 申请日期 | 2009.01.14 |
| 申请人 | 济南康众医药科技开发有限公司 | 发明人 | 张为胜;李诗标;许萍;徐东峰;张梅雪 |
| 分类号 | G01N23/20(2006.01)I;A61K33/06(2006.01)I;A61P1/12(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1、一种药用蒙脱石的X射线衍射图谱鉴别标准，其特征在于蒙脱石X射线衍射图谱的特征谱线在约1.5nm和约0.45nm波长处，图谱中其它杂质峰强度不得高于蒙脱石的第二个特征峰(约0.45nm波长处)，其中在约0.40nm波长处和约0.33nm波长处的两个杂质峰强度之和不得高于蒙脱石的第二个特征峰(约0.45nm波长处)。 | ||
| 地址 | 250014山东省济南市历下区山东省科学院西楼4号 | ||