发明名称 |
具有OTP存储器的半导体集成电路器件及其编程方法 |
摘要 |
半导体集成电路器件具有存储元件、状态检测电路和控制电路。通过以电的方式使元件特性不可逆变化,将信息编程在所述存储元件上。将所述状态检测电路以区别于未变化状态的方式检测受到不可逆变化所述存储元件的状态。所述控制电路结构上则做成使所述状态检测电路的检测能力变化。 |
申请公布号 |
CN100524525C |
申请公布日期 |
2009.08.05 |
申请号 |
CN200510065053.2 |
申请日期 |
2005.04.05 |
申请人 |
株式会社东芝 |
发明人 |
伊藤洋;行川敏正 |
分类号 |
G11C16/06(2006.01)I;G11C7/00(2006.01)I;H01L27/115(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/06(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
沈昭坤 |
主权项 |
1、一种半导体集成电路器件,其特征在于,包含通过以电的方式使元件特性不可逆变化而对信息编程的存储元件、以对受到不可逆变化的所述存储元件的状态与未变化状态进行区别的方式来进行检测的状态检测电路、使所述状态检测电路的检测能力变化的控制电路、比较在所述存储元件上编程的信息和所述状态检测电路从所述存储元件读出的信息并输出一致或不一致的比较结果的比较电路、将所述比较结果为不一致的二进制位个别规定为缺陷位的缺陷检测电路、以及根据所述缺陷检测电路规定的缺陷位的信息,对所述存储元件重新进行编程的编程单元。 |
地址 |
日本东京 |