发明名称 掺杂多晶矽导体及其沟渠式电容器结构之制备方法
摘要 本发明提出一种沟渠式电容器结构之制备方法,包含步骤(a)放置一基板于一反应腔内,该基板具有至少一沟渠、一设置于该沟渠之下部外缘的埋入式下电极以及一覆盖该沟渠内侧壁之介电层;(b)进行一薄膜沈积制程,以形成一多晶矽层于该介电层上;(c)进行一晶粒成长制程,以形成复数个多晶矽晶粒于该多晶矽层上;以及(d)进行一掺质扩散制程,以经由该多晶矽晶粒扩散导电掺质进入该多晶矽层。
申请公布号 TW200933710 申请公布日期 2009.08.01
申请号 TW097103204 申请日期 2008.01.29
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 王俊尧;杨富雄
分类号 H01L21/28(2006.01);H01L21/8242(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 代理人 王宗梅
主权项
地址 新竹市科学工业园区力行路19号3楼