发明名称 |
半导体器件、鉴别方法和系统 |
摘要 |
本发明的半导体器件(11)包括电路和保护结构(50)。它设置有第一和第二安全元件(12A、12B)并且具有输入和输出(14、15)。安全元件(12A、12B)分别具有第一和第二阻抗,该第一和第二阻抗不同。该器件还设置有测量装置、处理装置和连接装置。该处理装置将接收的任何第一信息转变为测量的特定程序。在器件(11)和读取器中实施询问-应答机构,以便检查真实性或者建立该器件(例如智能卡)的身份。 |
申请公布号 |
CN100521191C |
申请公布日期 |
2009.07.29 |
申请号 |
CN200480014379.6 |
申请日期 |
2004.05.17 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
皮姆·T·图伊利斯;托马斯·A·M·凯维纳尔;彼得拉·E·德容;罗贝尔图斯·A·M·沃尔特斯 |
分类号 |
H01L23/58(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/58(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
王波波 |
主权项 |
1、一种半导体器件,该半导体器件设置有包含有源元件的电路并且设置有保护结构,该半导体器件进一步设置有:第一和第二安全元件,所述第一和第二安全元件中的每一个安全元件包括该保护结构的局部区域以及输入和输出,并且分别具有第一和第二阻抗,连接装置,用于从读取器接收第一信息并且用于传输第二信息,该第一信息包括测量协议,所述第二信息根据所述安全元件的一组实际值的测量来产生,所述安全元件的这组实际值的测量是以根据所述第一信息建立的测量方式来进行的,测量装置,以根据所述第一信息建立的测量方式来测量所述第一和第二阻抗的实际值,以及处理装置,根据所述第一信息建立所述安全元件的这组实际值的测量程序,并根据测量的所述实际值产生所述第二信息。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |