发明名称 一种测量单模光纤几何参数的方法
摘要 一种测量单模光纤几何参数的方法,利用普通激光器作为光源,通过带透镜的精密五维调整架和光纤夹把光耦合进光纤,利用CCD或其他成像系统进行数据采集,把得到的数据用电脑进行分析,用Mathematica数学软件对测量到的可见光下的光强分布图进行处理和计算,用非线性最小二乘拟合法计算出光纤的几何参数,包括纤芯折射率n<sub>1</sub>,包层折射率n<sub>2</sub>,纤芯半径a。利用普通半导体激光器作为光源,使用方便,所需要的设备少,成本低廉,并且对环境没有严格的要求。利用可见光波段进行测量,避免使用价格昂贵的红外探测器和红外激光光源,同时便于用肉眼调整,也便于光强信息的采集。利用CCD探测光纤输出端的光强分布,能进行全场测量,一次性取齐全部数据,避免使用机械移动的扫描设备。
申请公布号 CN101476978A 申请公布日期 2009.07.08
申请号 CN200910077589.4 申请日期 2009.01.23
申请人 北京交通大学 发明人 刘豪;吴重庆;刘永椿
分类号 G01M11/02(2006.01)I;G01B11/08(2006.01)I;G01N21/41(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 北京市商泰律师事务所 代理人 毛燕生
主权项 1、一种光测量单模光纤几何参数的方法,特征在于包括以下步骤:用普通半导体激光器做光源,光源波长在可见光波段;用CCD探测光纤输出端的光强分布,进行全场测量;用到一种高阶模滤除装置,使光纤中传输的高阶模被滤除,仅基模到达光纤输出端;把得到的图像用计算机进行处理,通过对光强分布进行拟合,计算出单模光纤的几何参数,包括纤芯折射率n1、包层折射率n2和纤芯半径a;用非线性最小二乘法进行拟合,待拟合参数为纤芯折射率n1、包层折射率n2和纤芯半径a;根据光波导理论,计算出光纤输出端基模光强分布的公式I(n1,n2,a),从被测图像中提取光强分布数据点,用公式I(n1,n2,a)对数据点进行拟合,得到最佳的n1,n2,a值。
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