发明名称 用于小线宽和下降的线宽的JFET的可扩展工艺和结构
摘要 一种用于形成具有45纳米或更小线宽的常闭型JFET的可扩展器件结构和工艺。通过在衬底上形成一层厚度小于1000埃优选地为500埃或更小的氧化物而形成到源极区域、漏极区域和栅极区域的接触。在氧化物上形成氮化层,并且蚀刻用于源极、漏极和栅极接触的孔。然后沉积一层多晶硅从而填充所述孔,并且所述多晶硅被抛光到使其与氮化层平齐。然后向多晶硅接触注入所需要的晶体管的沟道类型所需要的杂质,并且所述杂质被置入到半导体衬底之下,从而形成源极区域、漏极区域和栅极区域。
申请公布号 CN101467261A 申请公布日期 2009.06.24
申请号 CN200780021856.5 申请日期 2007.06.11
申请人 帝斯曼方案公司 发明人 玛杜胡卡·沃拉;阿首克·库马尔·卡泊尔
分类号 H01L29/80(2006.01)I 主分类号 H01L29/80(2006.01)I
代理机构 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人 肖善强;南 霆
主权项 1、一种用于形成结型场效应晶体管的方法,包括在半导体衬底上形成绝缘材料层;在所述绝缘材料层的表面上形成氮化物层;在所述绝缘材料层和所述氮化物层中蚀刻孔从而限定用于源极、漏极和栅极的区域;沉积未掺杂的多晶硅以填充所述孔;和抛光所述多晶硅,使得其与所述氮化物层的表面大致平齐。
地址 美国加利福尼亚州