发明名称 一种ZnSe红外增透膜及其制备方法
摘要 一种红外增透膜及其制备方法,属于薄膜技术领域。以3~12μm为中心波长λ<sub>0</sub>,在ZnSe基体(1)上顺次制备高折射率(2)和低折射率(3)的λ<sub>0</sub>/4~λ<sub>0</sub>/4双层增透膜系。高折射率薄膜(2)的折射率为3.0~4.0,光学厚度为1~3μm,低折射率薄膜(3)的折射率为2.1~2.6,光学厚度为0.75~3μm。制备方法是采用中频和直流的双靶磁控溅射法,以Ge和C为靶源,CH<sub>4</sub>和Ar的混合气体作为辅助放电气体,在ZnSe基体单面或双面上沉积Ge<sub>x</sub>C<sub>1-x</sub>增透膜。通过控制Ge和C靶的溅射电流大小比例,以及控制CH<sub>4</sub>/Ar的分压比,制备出折射率不同的两层Ge<sub>x</sub>C<sub>1-x</sub>薄膜,通过控制时间等参数使每层薄膜的厚度达到λ<sub>0</sub>/4。本发明方法参数牵制性小、控制简单、增透效果优良。
申请公布号 CN101464530A 申请公布日期 2009.06.24
申请号 CN200810045242.7 申请日期 2008.01.23
申请人 四川大学 发明人 黄宁康;展长勇;汪德志
分类号 G02B1/11(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I;C23C14/02(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/54(2006.01)I 主分类号 G02B1/11(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1. 一种ZnSe红外增透膜,以12μm为中心波长,在ZnSe基体(1)上制作增透膜,其特征是:在ZnSe基体(1)上顺次有高折射率(2)和低折射率(3)的薄膜;所说的高折射率薄膜(2)的折射率为3.0~4.0,光学厚度为3μm左右;所说的低折射率薄膜(3)的折射率为2.1~2.6,光学厚度为3μm左右。
地址 610064四川省成都市一环路南一段24号
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