多工位光闸测试方法

摘要

本发明提供对光闸进行老化测试、破坏性测试及变速测试等测试需求的一种多工位光闸测试方法，用于测试多个光闸，通过PLC控制器控制，测试光闸，主要通过检测光闸是否有故障，即PLC控制器确定其发出的控制信号与光闸摆动所反馈的到位信号的时间间隔是否小于或等于预设值，如果两个信号时间间隔小于或等于预设值，则光闸无故障，如果两个信号时间间隔大于预设值，则光闸有故障，达到检测的目的。本发明实现光闸到位检测和故障检测，光闸老化过程中，如果有光闸出现过一次动作不正常，即被记录，自动停止该光闸动作并出现该工位异常标志，实现无人化自动化，且本发明操作简便，上电即可工作，操作简单易懂。

主权项

1. 一种多工位光闸测试方法，用于测试多个光闸，其特征在于，通过PLC控制器控制，测试光闸，该方法包括如下步骤：第一步：系统初始化；第二步：等待命令；第三步：根据指令，检测光闸摆动速度是否为默认初始状态；第四步：如果光闸摆动速度为默认初始状态，则工位默认；第五步：检测光闸摆动速度是否改变；第六步：如果光闸摆动速度没有改变，则继续保持光闸摆动速度的默认初始状态，并检测测试开关是否置位TEST档；第七步：如果测试开关置位TEST档，检测光闸是否有故障，即PLC控制器确定其发出的控制信号与光闸摆动所反馈的到位信号的时间间隔是否小于或等于预设值；第八步：如果两个信号时间间隔小于或等于预设值，则光闸无故障，PLC控制器检测是否收到终止检测信号；第九步：如果没有收到，则返回到第二步循环检测；如果收到，则停止对光闸进行检测。