发明名称 |
盘存储装置和盘存储装置不良判定方法 |
摘要 |
提供一种盘存储装置和盘存储装置不良判定方法,该盘存储装置包括:对于每个预定量尺寸的访问区域,计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元;可以预先设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间的限制时间设定单元;比较上述计测得到的各访问时间和上述设定的限制时间,并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行上述各访问区域的不良判定的访问时间不良判定单元;以及在上述访问时间不良判定单元中将判定为不良的访问区域的位置作为不良区域位置,登录于缺陷表单中的缺陷登录单元。由此,可以在AV数据记录、重放中使用盘存储装置的场合,在规定时间内进行访问、重放映像不发生中断或进行录像不发生数据丢失。 |
申请公布号 |
CN100505068C |
申请公布日期 |
2009.06.24 |
申请号 |
CN02801603.3 |
申请日期 |
2002.05.10 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
高市典昭 |
分类号 |
G11B20/18(2006.01)I;H04N5/781(2006.01)I;G06F3/06(2006.01)I |
主分类号 |
G11B20/18(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
付建军 |
主权项 |
1. 一种盘存储装置,其特征在于包括:从盘存储器的指定区域的全部区域的开始位置起,对于每个预定量尺寸的访问区域,以顺序访问方式进行访问测试,计测数据的读出时间或写入时间的访问时间计测单元;可以预先设定规定量的数据的读出限制时间及写入限制时间的限制时间设定单元;比较上述计测得到的各访问时间和上述设定的限制时间,并根据该访问时间是否超过上述限制时间而进行上述各访问区域的不良判定的访问时间不良判定单元;以及将在上述访问时间不良判定单元中判定为不良的访问区域的位置作为不良区域位置,登录于缺陷表单中的缺陷登录单元。 |
地址 |
日本大阪府 |