发明名称 Verfahren zur nasschemischen Behandlung einer Halbleiterscheibe
摘要 Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur nasschemischen Behandlung einer Halbleiterscheibe, umfassend: a) Halbleiterscheibe wird in Rotation versetzt; b) Reinigungsflüssigkeit, die Gasblasen mit einem Durchmesser von 100 µm oder kleiner beinhaltet, wird auf die rotierende Halbleiterscheibe aufgebracht, so dass sich ein Flüssigkeitsfilm auf der Halbleiterscheibe bildet; c) die rotierende Halbleiterscheibe wird einer Gasatmosphäre mit einem Reaktivgas ausgesetzt; d) Entfernen des Flüssigkeitsfilms.
申请公布号 DE102007058503(A1) 申请公布日期 2009.06.10
申请号 DE200710058503 申请日期 2007.12.05
申请人 SILTRONIC AG 发明人 SCHWAB, GUENTER;BUSCHHARDT, THOMAS;FEIJOO, DIEGO;ZAPILKO, CLEMENS;HAIBARA, TERUO;MORI, YOSHIHIRO
分类号 H01L21/302;C30B33/00 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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