发明名称 |
Verfahren zur nasschemischen Behandlung einer Halbleiterscheibe |
摘要 |
Gegenstand der Erfindung ist ein Verfahren zur nasschemischen Behandlung einer Halbleiterscheibe, umfassend: a) Halbleiterscheibe wird in Rotation versetzt; b) Reinigungsflüssigkeit, die Gasblasen mit einem Durchmesser von 100 µm oder kleiner beinhaltet, wird auf die rotierende Halbleiterscheibe aufgebracht, so dass sich ein Flüssigkeitsfilm auf der Halbleiterscheibe bildet; c) die rotierende Halbleiterscheibe wird einer Gasatmosphäre mit einem Reaktivgas ausgesetzt; d) Entfernen des Flüssigkeitsfilms.
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申请公布号 |
DE102007058503(A1) |
申请公布日期 |
2009.06.10 |
申请号 |
DE200710058503 |
申请日期 |
2007.12.05 |
申请人 |
SILTRONIC AG |
发明人 |
SCHWAB, GUENTER;BUSCHHARDT, THOMAS;FEIJOO, DIEGO;ZAPILKO, CLEMENS;HAIBARA, TERUO;MORI, YOSHIHIRO |
分类号 |
H01L21/302;C30B33/00 |
主分类号 |
H01L21/302 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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