发明名称 用于硅外延层生长的有源气体流量控制装置
摘要 本发明公开了一种用于硅外延层生长的有源气体流量控制装置,包括一个三通阀,所述三通阀与多个有源气体质量流量计连接的气体管路,所述三通阀与外延生长室之间连接的气体管路,所述三通阀与真空泵之间连接的排气旁路;在所述排气旁路中设置有自动压力控制装置,所述自动压力控制装置由微处理器控制,根据外延工艺的生长压力,调节有源气体质量流量计与三通阀之间的管路中的气压。本发明可以有效控制有源气体质量流量计到三通阀之间的压力,稳定外延生长初始阶段的生长速率,提高外延层的厚度可控性。
申请公布号 CN101451267A 申请公布日期 2009.06.10
申请号 CN200710094364.0 申请日期 2007.11.30
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 徐伟中
分类号 C30B25/16(2006.01)I;C30B25/14(2006.01)I;C30B29/06(2006.01)I 主分类号 C30B25/16(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1、一种用于硅外延层生长的有源气体流量控制装置,包括一个三通阀,所述三通阀与多个有源气体质量流量计连接的气体管路,所述三通阀与外延生长室之间连接的气体管路,所述三通阀与真空泵之间连接的排气旁路;其特征在于,在所述排气旁路中设置有自动压力控制装置,所述自动压力控制装置由微处理器控制,根据外延工艺的生长压力,调节有源气体质量流量计与三通阀之间的管路中的气压。
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