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经营范围
发明名称
System and method for testing integrated circuits
摘要
申请公布号
EP1804068(B1)
申请公布日期
2009.06.03
申请号
EP20070106336
申请日期
2001.06.28
申请人
CADENCE DESIGN SYSTEMS, INC.
发明人
COOKE, LAURENCE H.;LENNARD, CHRISTOPHER K.
分类号
G01R31/3183;G06F9/45;G06F17/50
主分类号
G01R31/3183
代理机构
代理人
主权项
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